走進(jìn)中科院蘇州納米所-半導(dǎo)體材料與器件測(cè)試分析專場(chǎng)活動(dòng)順利舉辦
9月7日下午，蘇州納米所與蘇州獨(dú)墅湖科教創(chuàng)新區(qū)、蘇州工業(yè)園區(qū)企業(yè)發(fā)展服務(wù)中心聯(lián)合舉辦的“‘獨(dú)墅一幟&園易聯(lián)’走進(jìn)中科院蘇州納米所-半導(dǎo)體材料與器件測(cè)試分析專場(chǎng)”活動(dòng)順利舉行。蘇州獨(dú)墅湖科教創(chuàng)新區(qū)黨工委委員、管委會(huì)副主任趙楨，蘇州工業(yè)園區(qū)企業(yè)發(fā)展服務(wù)中心產(chǎn)業(yè)促進(jìn)處副處長(zhǎng)王韻，蘇州納米所副所長(zhǎng)徐科、技術(shù)轉(zhuǎn)移中心主任冀曉燕出席活動(dòng)，共有來自區(qū)內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)相關(guān)企業(yè)、科研院所、投資機(jī)構(gòu)的40余名代表參加了本次活動(dòng)。
活動(dòng)中，徐科介紹了蘇州納米所測(cè)試分析平臺(tái)的基本情況，平臺(tái)內(nèi)多位技術(shù)專家依次作了《掃描探針顯微術(shù)（SPM）及其在半導(dǎo)體材料與器件表征中應(yīng)用》《半導(dǎo)體材料與器件的光電表征技術(shù)及應(yīng)用》《X射線衍射在半導(dǎo)體材料結(jié)構(gòu)表征中應(yīng)用》《聚焦離子束（FIB）及透射電子顯微術(shù)（TEM）在半導(dǎo)體材料與器件微結(jié)構(gòu)表征中應(yīng)用》四個(gè)主題報(bào)告，全面而又深入地介紹了測(cè)試分析平臺(tái)內(nèi)先進(jìn)的分析表征設(shè)備，豐富的表征技術(shù)與測(cè)試手段，可以為納米材料和器件、生物醫(yī)學(xué)、仿生、納米安全等各個(gè)科研方向提供一站式的測(cè)試、咨詢與培訓(xùn)等科技支撐服務(wù)。
本次活動(dòng)重點(diǎn)圍繞第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新和發(fā)展熱點(diǎn)，面向園區(qū)半導(dǎo)體領(lǐng)域的院所、企業(yè)集中展示蘇州納米所第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域前沿應(yīng)用技術(shù)和配套完善的測(cè)試分析平臺(tái)，進(jìn)一步加深企業(yè)對(duì)蘇州納米所的了解，搭建雙方溝通的橋梁，促進(jìn)區(qū)內(nèi)第三代半導(dǎo)體創(chuàng)新資源進(jìn)一步流動(dòng)融合，實(shí)現(xiàn)合作共贏。
徐科介紹測(cè)試分析平臺(tái)
趙禎致辭
專家報(bào)告
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