Analysis of surface roughness in Ti/Al/Ni/Au Ohmic contact to AlGaN/GaN high electron mobility transistors
| 論文編號(hào): | |
|---|---|
| 第一作者所在部門(mén): | |
| 論文題目英文: | |
| 作者: | Gong RM; Wang JY; Liu SH; Dong ZH; Yu M; Wen CP; Cai Y (蔡勇); Zhang BS (張寶順) |
| 論文出處: | |
| 刊物名稱(chēng): | Applied Physics Letters |
| 年: | 2010-08-09 |
| 卷: | |
| 期: | |
| 頁(yè): | |
| 聯(lián)系作者: | |
| 收錄類(lèi)別: | |
| 影響因子: | |
| 摘要: | |
| 英文摘要: | |
| 外單位作者單位: | |
| 備注: |
